Dr. Daniel Grüner

Lebenslauf

Seit 2010	Wissenschaftlicher Mitarbeiter, Max-Planck-Institut für Chemische Physik fester Stoffe
2007-2010	Wissenschaftlicher Mitarbeiter, Universität Stockholm, Department of Physical, Inorganic and Structural Chemistry
2002-2007	Promotionsstudium Chemie, Technische Universität Dresden Dissertation: Untersuchungen zur Natur der Laves-Phasen in Systemen der Übergangsmetalle (angefertigt am Max-Planck-Institut für Chemische Physik fester Stoffe)
1997-2002	Diplomstudiengang Chemie, Universität Dortmund Diplomarbeit: ”Solvothermalsynthese mit Seltenerdoxiden, -halogeniden und -oxidhalogeniden

Forschungsinteressen

Knochen und Knochenersatzmaterialien

Strukturelle Untersuchungen von an Knochen und Knochenersatzmaterialien mittels Elektronenmikroskopie bilden den Schwerpunkt eines Teilprojekts im DFG-geförderten  SFB-Transregio 79. Von besonderem Interesse sind der Einfluss von systemischen Knochenerkrankungen sowie die Grenzflächen zwischen Knochen und Knochenersatzmaterialien.

Elektronenmikroskopie

Neben der Anwendung von  Transmissions- und Rasterelektronenmikroskopie auf eine Vielzahl unterschiedlicher Materialien ist die Weiterentwicklung von Abbildungs- und Präparationsmethoden von besonderem Interesse. Dazu zählen die Rasterelektronenmikroskopie mit geringen Beschleunigungsspannungen zur Untersuchung empfindlicher Materialien sowie die Probenpräparation mittels fokussiertem Ionenstrahl zur ortsselektiven Untersuchung von Grenzflächen.

Ausgewählte Publikationen

1. Grüner, D.; Stein, F.; Palm, M.; Konrad, J.; Ormeci, A.; Schnelle, W.; Grin, Y.; Kreiner, G.:
   Preparation, phase stability and structure of the C36 Laves phase Nb_1-xCo_2+x
    Z. Kristallogr. 221 (2006) 319–333. (Open Access)
    
2. Stein, F.; Jiang, D.; Palm, M.; Sauthoff, G.; Grüner, D.; Kreiner, G.:
   Experimental reinvestigation of the Co–Nb phase diagram
   Intermetallics 16 (2008) 785–792.
    
3. Grüner, D.; Shen Z.:
   Direct Scanning Electron Microscopy Imaging of Ferroelectic Domains After Ion Milling
   J. Am. Ceram. Soc. 93 (2010) 48–50.
    
4. Grüner, D.; Fäldt, J.; Jansson, K.; Shen Z.:
   Argon ion beam polishing: an elaborate preparation technique for evaluating the interface of osseointegrated implants with high resolution
   Int. J. Oral Maxillofac. Implants (2011), in press.
    
5. Zhang, D. L.; Grüner, D.; Oleynikov, P.; Wan, W.; Hovmöller, S.; Zou, X. D.:
   Precession Electron Diffraction Using a Digital Sampling Method
   Ultramicroscopy 111 (2010) 47–55.
   

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