Team:
 Dr. Reiner Ramlau
 Dr. Paul Simon
 Dr. Wilder Carrillo-Cabrera
Dr. Elena Rosseeva
Dipl.-Chem. Matthias Friedrich
Yigit Öztan, M.Sc.
Yuan Luo, B.Sc.
Uta Köhler
Jana Buder

Für die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) steht ein Tecnai F30-G² mit Super-Twin-Linse zur Verfügung, das sowohl ein relativ hohes Auflösungsvermögen (Punktauflösung: 0,2 nm), große Kippwinkel (für kristallographisches Arbeiten) als auch analytische Möglichkeiten (EELS, EFTEM, HAADF-STEM, EDXS) in sich vereint. Die Untersuchung luftempfindlicher Substanzen ist möglich. Aktuelle Forschungsprojekte umfassen die Realstrukturcharakterisierung und Nanoanalyse von Germanium- und Silicium-Clathraten, die Überstrukturbildung in Titan-Borophosphaten und Ordnungs-Unordnungs-Phänomene in Zirkon-Arseniden-Seleniden (Dr. R. Ramlau).

Anwendungen der TEM auf komplexe anorganische Verbindungen.
a) Hochauflösende TEM-Abbildung in [100]-Orientierung, b) EEL-Spektrum und c) EDX-Spektrum des Borsilicides K₇B₇Si₃₉ mit Clathrat-I-Struktur [Jung et. al, Angew. Chemie 119, 6846 (2007)]. d) HAADF-STEM-Abbildung in [100]-Orientierung der komplexen intermetallischen Phase RhAl_2,63. (Abbildungen: Dr. R. Ramlau)

Daneben existiert ein Transmissionselektronenmikroskop Tecnai 10 mit High-Contrast-Linse und einer Zusatzeinheit für die Präzessions-Elektronenbeugung. Die in guter Näherung kinematischen Intensitäten der Reflexe aus der Präzessions-Elektronenbeugung ermöglichen eine Strukturverfeinerung analog zur Röntgenkristallographie. Der unschlagbare Vorteil der Elektronenkristallographie liegt in der Anwendbarkeit auf kleinste Probenvolumina, z. B. komplexen intermetallischen Phasen in heterogenen Gefügen (Dr. W. Carrillo-Cabrera).

 Rasterelektronenmikroskopie (REM)
 TEM-Präparation
 Elektronenholographie