Search results

Neethirajan, J.; Daurer, B. J.; Di Pietro Martínez, M.; Hrabec, A.; Turnbull, L.; Yamamoto, R.; Ferreira, M. R.; Štefančič, A.; Mayoh, D. A.; Balakrishnan, G. et al.; Pei, Z.; Xue, P.; Chang, L.; Ringe, E.; Harrison, R.; Valencia, S.; Kazemian, M.; Kaulich, B.; Donnelly, C.: Soft X-Ray Phase Nanomicroscopy of Micrometer-Thick Magnets. Physical Review X 14, 031028, pp. 1 - 20 (2024)