Publikationen von V. Pacheco

Zeitschriftenartikel (7)

1.
Zeitschriftenartikel
Pacheco, V.; Cardoso-Gil, R.; Tepech-Carrillo, L.; Grin, Y.: Corrosion behavior of thermoelectric clathrates α- and β-Eu8Ga16−xGe30+x in air. Corrosion Science 53 (7), S. 2368 - 2373 (2011)
2.
Zeitschriftenartikel
Bentien, A.; Pacheco, V.; Paschen, S.; Grin, Y.; Steglich, F.: Transport properties of composition tuned α- and β-Eu8Ga16-xGe30+x. Physical Review B 71, S. 165206-1 - 165206-12 (2005)
3.
Zeitschriftenartikel
Pacheco, V.; Bentien, A.; Carrillo-Cabrera, W.; Paschen, S.; Steglich, F.; Grin, Y.: Relationship between composition and charge carrier concentration in Eu8Ga16-xGe30+x clathrates. Physical Review B 71, S. 165205-1 - 165205-10 (2005)
4.
Zeitschriftenartikel
Sichelschmidt, J.; Voevodin, V.; Pacheco, V.; Grin, Y.; Steglich, F.; Nishi, T.; Kimura, S.: Optical investigations of the clathrate α-Eu8Ga16Ge30. The European Physical Journal B, Condensend Matter Physics 46 (3), S. 363 - 366 (2005)
5.
Zeitschriftenartikel
Yuan, H. Q.; Grosche, F. M.; Carrillo-Cabrera, W.; Pacheco, V.; Sparn, G.; Baenitz, M.; Schwarz, U.; Grin, Y.; Steglich, F.: Interplay of superconductivity and structural phase transition in the clathrate Ba6Ge25. Physical Review B 70 (17), S. 174512-1 - 174512-6 (2004)
6.
Zeitschriftenartikel
Paschen, S.; Pacheco, V.; Bentien, A.; Sanchez, A.; Carrillo-Cabrera, W.; Baenitz, M.; Iversen, B. B.; Grin, Y.; Steglich, F.: Are type-I clathrates Zintl phases and 'phonon glasses and electron single crystals'? Physica B-Condensed Matter 328 (1-2), S. 39 - 43 (2003)
7.
Zeitschriftenartikel
Pacheco, V.; Carrillo-Cabrera, W.; Tran, V. H.; Paschen, S.; Grin, Y.: Comment on "Silicon Clathrate with an f-Electron system". Physical Review Letters 87 (9), 099601, S. 099601-1 - 099601-1 (2001)

Konferenzbeitrag (1)

8.
Konferenzbeitrag
Bentien, A.; Paschen, S.; Pacheco, V.; Grin, Y.; Steglich, F.: High-temperature thermoelectric properties of α- and β-Eu8Ga16Ge30. In: Proceedings of the 22nd International Conference on Thermoelectrics, S. 131 - 133. IEEE (2003)
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